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    絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）測(cè)定檢測(cè)

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    絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）測(cè)定的重要性 相比漏電起痕指數(shù)（Comparative Tracking Index，CTI）是衡量絕緣材料在潮濕和污染條件下抵抗表面漏電起痕能力的關(guān)鍵參數(shù)，廣泛應(yīng)用于電
    電壓升高率du/dt的測(cè)量檢測(cè)

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    電壓升高率（du/dt）測(cè)量的重要性 電壓升高率（du/dt）是指單位時(shí)間內(nèi)電壓的變化速率，是衡量電力系統(tǒng)瞬態(tài)特性、設(shè)備耐受能力及電磁兼容性的關(guān)鍵參數(shù)。在高壓電力設(shè)備、電力電子裝置（
    過載試驗(yàn)(過載性能)檢測(cè)

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    過載試驗(yàn)（過載性能）檢測(cè)概述 過載試驗(yàn)（過載性能檢測(cè)）是評(píng)估設(shè)備、材料或系統(tǒng)在超出額定負(fù)載條件下能否保持安全運(yùn)行及功能完整性的關(guān)鍵測(cè)試手段。該檢測(cè)廣泛應(yīng)用于電氣設(shè)備、機(jī)
    數(shù)字集成電路輸入低電平電流檢測(cè)

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    數(shù)字集成電路輸入低電平電流檢測(cè)的意義 在數(shù)字集成電路（IC）的設(shè)計(jì)與應(yīng)用中，輸入低電平電流（IIL）是衡量器件性能的關(guān)鍵參數(shù)之一。它直接影響電路的功耗、信號(hào)穩(wěn)定性以及與其他邏輯
    介電性能試驗(yàn)（程序I）檢測(cè)

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    介電性能試驗(yàn)（程序I）檢測(cè)概述 介電性能試驗(yàn)是評(píng)估材料在電場(chǎng)作用下絕緣能力和極化特性的重要手段，廣泛應(yīng)用于電力設(shè)備、電子元器件、絕緣材料等領(lǐng)域。程序I作為介電性能試驗(yàn)的
    防護(hù)等級(jí)驗(yàn)證（IP）檢測(cè)

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    防護(hù)等級(jí)驗(yàn)證（IP）檢測(cè)的重要性 防護(hù)等級(jí)驗(yàn)證（IP檢測(cè)）是評(píng)估電氣設(shè)備、電子元器件或外殼對(duì)外界固體異物和液體侵入防護(hù)能力的關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目，廣泛應(yīng)用于戶外照明設(shè)備、工業(yè)設(shè)備、消
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