多晶硅檢測

多晶硅檢測項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

點(diǎn) 擊 解 答??

　　多晶硅在電子工業(yè)中廣泛應(yīng)用，是很重要的半導(dǎo)體材料，在太陽能利用上，多晶硅可以提高太陽能電池的光轉(zhuǎn)化效率，中析研究所檢測中心可對各類多晶硅制品進(jìn)行檢測。中析研究所可出具第三方多晶硅檢測報(bào)告。

檢測范圍

　　多晶硅鑄錠，多晶硅太陽能電池，電子級多晶硅，多晶硅粉，低溫多晶硅，光伏多晶硅，多晶硅板等。

檢測項(xiàng)目

　　純度檢測，電阻率檢測，潔凈度檢測，磷硼檢測，質(zhì)量檢測，雜質(zhì)檢測等。

多晶硅檢測標(biāo)準(zhǔn)

　　1GB/T 12963-2014電子級多晶硅

　　2GB/T 24579-2009酸浸取 原子吸收光譜法測定多晶硅表面金屬污染物

　　3GB/T 24582-2009酸浸取 電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì)

　　4GB/T 25074-2017太陽能級多晶硅

　　5GB/T 29054-2012太陽能級鑄造多晶硅塊

　　6GB/T 29055-2012太陽電池用多晶硅片

　　7GB/T 29057-2012用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價(jià)多晶硅棒的規(guī)程

　　8GB 29447-2012多晶硅企業(yè)單位產(chǎn)品能源消耗限額

　　9GB/T 32652-2016多晶硅鑄錠石英坩堝用熔融石英料

　　10GB/T 33236-2016多晶硅 痕量元素化學(xué)分析 輝光放電質(zhì)譜法

　　11GB/T 35309-2017用區(qū)熔法和光譜分析法評價(jià)顆粒狀多晶硅的規(guī)程

　　12GB/T 37049-2018電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法

　　13GB/T 37051-2018太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法

為什么選擇中科光析科學(xué)技術(shù)研究所做多晶硅檢測?

　　1、中析研究所多晶硅檢測中心資質(zhì)齊全，CMA資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測機(jī)構(gòu)。

　　2、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，博士團(tuán)隊(duì)，歐美進(jìn)口檢測設(shè)備，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

　　3、研究所檢測報(bào)告支持二維碼查詢真?zhèn)巍?/p>

　　4，多家分支機(jī)構(gòu)，支持上門取樣，免費(fèi)初檢。

　　5，售后服務(wù)，相關(guān)工程師一對一服務(wù)。

　　6，可出具中英文檢測報(bào)告，及msds報(bào)告編寫服務(wù)。

多晶硅檢測流程

　　1、電話咨詢

　　2、郵寄多晶硅或上門取樣。

　　3、工程師報(bào)價(jià)

　　4、支付檢測費(fèi)用，開展實(shí)驗(yàn)。

　　5、完成實(shí)驗(yàn)，出具檢測報(bào)告。

　　6、郵寄檢測報(bào)告，售后服務(wù)。