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熒光增白劑4BM(C.I.熒光增白劑28)檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求? |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了棉本色布的分類(lèi)和標(biāo)識(shí)、要求、試驗(yàn)和檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于機(jī)織生產(chǎn)的棉本色布。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于大提花、割絨類(lèi)織物及特種用布。
本標(biāo)準(zhǔn)描述了各種顏料染色或印花紡織品的耐刷洗色牢度試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于散纖維。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紙和紙板透氣度的三種測(cè)定方法:葛爾萊法、肖伯爾法、本特生法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透氣度在1×10<上標(biāo) -2>μm/(Pa?s)~1×10<上標(biāo) 2>μm/(Pa?s)之間的紙和紙板。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于表面粗糙度較大,且不能被牢固夾緊的紙和紙板,如皺紋紙或瓦楞紙板。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了陰極銅的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存和質(zhì)量證明書(shū)以及合同(或訂貨單)內(nèi)容等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電解精煉法或電解沉積法生產(chǎn)的陰極銅。通常供重熔用。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了煤和水煤漿中碳?xì)浞治龅娜?jié)爐法、二節(jié)爐法及用電量法測(cè)定煤及水煤漿干燥煤樣中的氫、用重量法測(cè)定碳的方法原理、試劑和材料、裝置、試驗(yàn)步驟、結(jié)果計(jì)算及精密度等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于褐煤、煙煤、無(wú)煙煤和水煤漿。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了煤炭浮沉試驗(yàn)的煤樣、浮沉試驗(yàn)室、設(shè)備(器具)與儀器、重液配制、試驗(yàn)準(zhǔn)備、試驗(yàn)步驟、分析化驗(yàn)項(xiàng)目和結(jié)果整理。本標(biāo)準(zhǔn)適用煙煤和無(wú)煙煤,褐煤可參照?qǐng)?zhí)行。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了1.2/4.4 mm同軸綜合通信電纜的型號(hào)、規(guī)格、電性能、交貨長(zhǎng)度、驗(yàn)收規(guī)則、試驗(yàn)方法和標(biāo)志包裝。本標(biāo)準(zhǔn)適用于1.2/4.4 mm同軸綜合通信電纜的制造、驗(yàn)收和使用。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電纜適用于22 MHz及以下模擬干線通信系統(tǒng)或34 Mbit/s及以下數(shù)字通信系統(tǒng),高頻四線組和高頻對(duì)絞組用于156 kHz及以下模擬通信系統(tǒng),低頻四線組和低頻對(duì)絞組用于音頻通信系統(tǒng)。
本部分給出下列各類(lèi)或各分類(lèi)器件的標(biāo)準(zhǔn):整流二極管包括:——雪崩整流二極管;——可控雪崩整流二極管;——快開(kāi)關(guān)整流二極管。
本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)指定某些視覺(jué)、聽(tīng)覺(jué)和觸覺(jué)標(biāo)識(shí)的特定含義建立了一般規(guī)則,其目的是:通過(guò)對(duì)設(shè)備或過(guò)程的安全監(jiān)控或安全操作,提高人身、財(cái)產(chǎn)和(或)環(huán)境的安全性;通過(guò)對(duì)設(shè)備或過(guò)程進(jìn)行正常的監(jiān)督、控制和維護(hù);有利于對(duì)控制狀況和操作器件位置的快速識(shí)別。本標(biāo)準(zhǔn)一般適用于下列場(chǎng)合:從諸如單一的指示燈、按鈕、機(jī)械指示器、發(fā)光二極管(LEDs)或圖像顯示屏等構(gòu)成的一些簡(jiǎn)單的場(chǎng)合,直到由多種器件組成的用來(lái)控制設(shè)備或工業(yè)過(guò)程的各種控制站;涉及人身、財(cái)產(chǎn)和/或環(huán)境安全的場(chǎng)合,以及使用上述代碼以便對(duì)設(shè)備進(jìn)行正常監(jiān)控的場(chǎng)合;由技術(shù)委員會(huì)為某一特定功能所指定的某種特定編碼的場(chǎng)合。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅拋光氧化繡生缺陷的檢驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅拋光片表面區(qū)在模擬器件氧化工藝中繡生或增強(qiáng)的晶體缺陷的檢測(cè)。硅單晶氧化繡生缺陷的檢驗(yàn)也可參照此方法。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多晶硅中基磷含量的檢驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在硅芯上沉積生長(zhǎng)的多晶硅棒中基磷含量(原子數(shù))的測(cè)定,測(cè)定范圍為0.01×10<上標(biāo)13> cm<上標(biāo)-3>~500×10<上標(biāo)13> cm<上標(biāo)-3>。
GB/T 4074的本部分規(guī)定了下列試驗(yàn)方法:——試驗(yàn)方法12:耐溶劑;——試驗(yàn)方法16:耐冷凍劑;——試驗(yàn)方法17:直焊性;——試驗(yàn)方法20:耐水解和耐變壓器油。定義、試驗(yàn)方法總則和繞組線試驗(yàn)方法一覽表見(jiàn)GB/T 4074.1。
GB/T 4074的本部分規(guī)定了下列試驗(yàn)方法:——試驗(yàn)方法5:電阻;——試驗(yàn)方法13:擊穿電壓; 一試驗(yàn)方法14:漆膜連續(xù)性;——試驗(yàn)方法19:介質(zhì)損耗因數(shù);——試驗(yàn)方法23:針孔。定義、試驗(yàn)方法總則和繞組線試驗(yàn)方法一覽表見(jiàn)GB/T 4074.1。
根據(jù)IEC 60216-1:1987,本試驗(yàn)依法規(guī)定了評(píng)定漆包和薄膜繞包圓、扁線溫度指數(shù)的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)方法不適用于纖維絕緣線或無(wú)機(jī)纖維薄膜繞包線。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電離輻射探測(cè)器用的主放大器(成形放大器)和電荷靈敏前置放大器的測(cè)試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體探測(cè)器、氣體脈沖電離室、正比探測(cè)器用的主放大器和電荷靈敏前置放大器,也適用于閃爍探測(cè)器用的主放大器。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了自應(yīng)力混凝土管(代號(hào)SCP,簡(jiǎn)稱(chēng)“管子”)產(chǎn)品的術(shù)語(yǔ)和定義、等級(jí)和標(biāo)記、原材料、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、堆放、運(yùn)輸與出廠等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于公稱(chēng)內(nèi)徑為100 mm~800 mm,工作壓力為0.2 MPa~0.8 MPa,其接頭采用圓形截面橡膠圈密封的承插式自應(yīng)力混凝土輸水或排水用管。
統(tǒng)計(jì)分布數(shù)值表 正態(tài)分布
統(tǒng)計(jì)分布數(shù)值表 t分布
統(tǒng)計(jì)分布數(shù)值表 F分布
本標(biāo)準(zhǔn)給出統(tǒng)計(jì)學(xué)中常用的泊松分布的一種數(shù)值表,其名稱(chēng)、表距和精度如下:泊松分布函數(shù)表 λ=0.005(0.005)0.3(0.01)1(0.1)5(0.2)15 6位小數(shù) x=0,l,2,…,k ’ 其中k同時(shí)滿足P(k;λ)≤1—5×10—7 和P(k+1;λ)>1—5 X 10—7雖然表中給出6位小數(shù),但是在使用中需要取幾位,要由實(shí)際問(wèn)題決定。在應(yīng)用中不能滿足要求時(shí),可參考附錄的處理方法。