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硅單晶及太陽(yáng)電池用硅單晶檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求? |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅單晶(簡(jiǎn)稱硅單晶)的牌號(hào)、分類、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存、質(zhì)量證明書和訂貨單(或合同)內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于直拉摻雜制備的圓形硅單晶經(jīng)加工制成的準(zhǔn)方形或方形硅單晶。產(chǎn)品經(jīng)切割成硅片后進(jìn)一步制作太陽(yáng)能電池。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅片(以下簡(jiǎn)稱硅片)的表面粗糙度及切割線痕的接觸式或非接觸式輪廓測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于通過(guò)線切工藝加工生產(chǎn)的單晶和多晶硅片。如果需要適用于其他產(chǎn)品,則需相關(guān)各方協(xié)商同意。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅片(以下簡(jiǎn)稱硅片)厚度及總厚度變化的分立式和掃描式測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于符合GB/T 26071、GB/T 29055規(guī)定尺寸的硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量,分立式測(cè)量方法適用于接觸式及非接觸式測(cè)量,掃描式測(cè)量方法只適用于非接觸式測(cè)量。在測(cè)量?jī)x器準(zhǔn)許的情況下,本標(biāo)準(zhǔn)也可用于其他規(guī)格硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅片訂貨單的格式要求和使用。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅單晶研磨片、硅單晶拋光片、硅單晶外延片、太陽(yáng)能電池用硅單晶切割片、太陽(yáng)能電池用多晶硅片的訂貨單格式,其他半導(dǎo)體材料的訂貨單可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅片的包裝。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅單晶拋光片、外延片、SOI等硅片的潔凈包裝、硅單晶研磨片(簡(jiǎn)稱硅研磨片)包裝和太陽(yáng)能電池用硅片包裝,使其在運(yùn)輸、貯存過(guò)程中避免再次沾污和破碎。