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數(shù)字集成電路存儲器檢測

發(fā)布日期: 2024-06-21 17:34:53 - 更新時間:2024年06月29日 15:22

數(shù)字集成電路存儲器檢測項目報價???解決方案???檢測周期???樣品要求?

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GB/T 2900.66-2004電工術(shù)語 半導(dǎo)體器件和集成電路

GB/T 2900的本部分界定了半導(dǎo)體技術(shù)、半導(dǎo)體設(shè)計和半導(dǎo)體類型的通用術(shù)語。

GB/T 3431.2-1986半導(dǎo)體集成電路文字符號 引出端功能符號

本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路(以下簡稱器件)引出端功能的文字符號。

GB/T 12274.1-2012有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器.第1部分:總規(guī)范

GB/T 12274的本部分規(guī)定了采用能力批準程序或鑒定批準程序評定質(zhì)量的石英晶體振蕩器的試驗方法和通用性要求。本部分適用于采用能力批準程序或鑒定批準程序評定質(zhì)量的石英晶體振蕩器。

GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分;數(shù)字集成電路

本標準給出了下列各類或各分類器件的標準: --組合和時序數(shù)字電路; --存儲器集成電路; --微處理器集成電路; --電荷轉(zhuǎn)移器件。

GB/T 17574.9-2006半導(dǎo)體器件.集成電路.第2-9部分:數(shù)字集成電路.紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲器空白詳細規(guī)范

IEC電子元器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程,并在IEC的授權(quán)下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序,以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。

GB/T 17574.10-2003半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-10部分;數(shù)字集成電路集成電路動態(tài)讀/寫存儲器空白詳細規(guī)范

IEC電子元器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程,并在IEC的授權(quán)下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序,以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。 本空白詳細規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一,并且與下列標準一起使用。

GB/T 17574.11-2006半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-11部分:數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范

本部分半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分:數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范,適用于:標志和訂貨資料、應(yīng)用說明、功能說明、極限值、工作條件、電特性、編程等。

GB/T 17574.20-2006半導(dǎo)體器件集成電路 笫2-20部分:數(shù)字集成電路低壓集成電路族規(guī)范

本規(guī)范的目的是給出低壓集成電路不同分組的接口規(guī)范,包括電源電壓值、容差和壞情況下的輸入、輸出電壓極限值。 同時給出每類標稱電源電壓的兩種接口規(guī)范:正常范圍和寬范圍。正常范圍是依據(jù)工業(yè)標準制定的,典型容差大約是10%。寬范圍是擴展到一個較寬的范圍,可以使電池繼續(xù)工作的實際值。

GB/T 20438.2-2017電氣/電子/可編程電子安全相關(guān)系統(tǒng)的功能安全 第2部分:電氣/電子/可編程電子安全相關(guān)系統(tǒng)的要求

GB/T 20438的本部分a) 在使用前,應(yīng)充分理解GB/T 20438.1,GB/T 20438.1提供了實現(xiàn)功能安全的總體框架;b) 適用于GB/T 20438.1定義的安全相關(guān)系統(tǒng),安全相關(guān)系統(tǒng)至少包含一種電氣、電子或可編程電子組件;c) 適用于E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)中的所有組件(包括傳感器、執(zhí)行器和操作員界面);d) 規(guī)定了如何按照GB/T 20438.1定義的E/E/PE系統(tǒng)安全要求規(guī)范(由E/E/PE系統(tǒng)安全功能要求規(guī)范和E/E/PE系統(tǒng)安全完整性要求規(guī)范組成),開發(fā)出E/E/PE系統(tǒng)設(shè)計要求規(guī)范;e) 規(guī)定了在E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)的設(shè)計和制造過程中(即建立E/E/PE系統(tǒng)安全生命周期模型)除軟件外所進行活動的要求,軟件要求在GB/T 20438.3(見圖2~圖4)中給出;這些要求包含了用以避免和控制故障和失效發(fā)生的技術(shù)和措施的應(yīng)用,并被劃分成與安全完整性等級相對應(yīng)的不同等級;f) 規(guī)定了執(zhí)行E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)的安裝、調(diào)試以及終安全確認所需的信息;g) 不適用于E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)的運行和維護階段,這方面內(nèi)容在GB/T 20438.1中給出。但是,本部分為用戶提供了有關(guān)E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)的運行和維護所需的信息和規(guī)程的準備要求;h) 規(guī)定了對E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)進行各種修改的各方應(yīng)滿足的要求;i) 不適用于符合IEC 60601的醫(yī)療設(shè)備。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基礎(chǔ)的安全標準,雖然它不是針對低復(fù)雜的E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)(見GB/T 20438.4—2017的3.4.3),但作為基礎(chǔ)安全標準,各技術(shù)委員會可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指導(dǎo)下制定相關(guān)標準時使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作為獨立標準來使用。GB/T 20438的橫向安全功能不適用于在IEC 60601系列指導(dǎo)下的醫(yī)療設(shè)備。各技術(shù)委員會的責任之一,是在其標準的起草工作中盡可能使用基礎(chǔ)的安全標準。在本部分中,本基礎(chǔ)安全標準中的要求、測試方法或測試條件只有在這些技術(shù)委員會起草的標準中已明確引用或包含時適用。圖1表示了GB/T 20438的整體框架,同時指出了本部分在實現(xiàn)E/E/PE安全相關(guān)系統(tǒng)的功能安全過程中的作用。GB/T 20438.6—2017的附錄A詳述了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3的應(yīng)用。

GB/T 20515-2006半導(dǎo)體器件 集成電路 第5部分:半定制集成電路

本標準規(guī)了下列集成電路(IC)分類體系樹(見圖1)中有關(guān)半定制集成電路子類的標準。

GB/T 29545-2013機床數(shù)控系統(tǒng) 可靠性設(shè)計

本標準規(guī)定了機床數(shù)控系統(tǒng)可靠性設(shè)計的基本流程、方法以及評審內(nèi)容和程序。本標準適用于機床數(shù)控系統(tǒng)(以下簡稱“數(shù)控系統(tǒng)”)。其他工業(yè)機械設(shè)備數(shù)控系統(tǒng)的可靠性設(shè)計可參照本標準。

GB/T 35003-2018非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法

本標準規(guī)定了非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗的方法。本標準適用于電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)、快閃存儲器(Flash)以及內(nèi)嵌上述存儲器的集成電路(以下簡稱器件)。

GB/T 35008-2018串行NOR型快閃存儲器接口規(guī)范

本標準規(guī)定了串行或非(NOR)型快閃存儲器(以下稱為器件)的物理接口、存儲陣列架構(gòu)、指令定義和參數(shù)表說明等。本標準適用于地址為24位的串行NOR型快閃存儲器的設(shè)計和使用。

GB/T 35009-2018串行NAND型快閃存儲器接口規(guī)范

本標準規(guī)定了串行與非(NAND)型快閃存儲器(以下稱為器件)的物理接口、存儲陣列架構(gòu)、指令定義和參數(shù)表說明等。本標準適用于串行NAND型快閃存儲器的設(shè)計和使用。

GB/T 36474-2018半導(dǎo)體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器(DDR3 SDRAM)測試方法

本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器(DDR3 SDRAM)功能驗證和電參數(shù)測試的方法。本標準適用于半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域中第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器(DDR3 SDRAM)功能驗證和電參數(shù)測試。

GB/T 36477-2018半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器測試方法

本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路快閃存儲器電參數(shù)、時間參數(shù)和存儲單元功能測試的基本方法。本標準適用于半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域中快閃存儲器電參數(shù)、時間參數(shù)和存儲單元功能的測試。

GB/T 50780-2013電子工程建設(shè)術(shù)語標準

1.0.1為規(guī)范電子工程建設(shè)的基本術(shù)語及其定義,實現(xiàn)術(shù)語標準化,制定本標準。1.0.2本標準適用于電子工程建設(shè)的規(guī)劃、咨詢、設(shè)計、工程監(jiān)理、工程管理等工程服務(wù)以及教學、科研及其他相關(guān)領(lǐng)域。1.0.3電子工程建設(shè)文件、圖紙、科技文獻使用的術(shù)語,除應(yīng)符合本標準外,尚應(yīng)符合現(xiàn)行有關(guān)標準的規(guī)定。

HB 6632-1992航空電氣圖用二進制邏輯單元圖形符號

本標準規(guī)定了GB 4728.12(二進制邏輯單元)中未列入的電氣圖用二進制邏輯單元圖形符號,以及復(fù)雜功能邏輯單元圖形符號的繪制規(guī)則。  本標準和GB 4728.12配套使用,適用于維持有關(guān)航空電氣圖用二進制邏輯單元圖形符號。

HB 6636-2006航空電氣系統(tǒng)及設(shè)備的參照代號

本標準規(guī)定了航空電氣系統(tǒng)及設(shè)備內(nèi)項目的參照代號、端子代號等的構(gòu)成和分類碼。 本標準適用于航空產(chǎn)品的電氣簡圖、接線表、元件表、說明書及印制板圖等電氣技術(shù)文件,用以標識航空電氣系統(tǒng)及設(shè)備內(nèi)的項目。也可用于將參照代號或其一部分表示在電氣設(shè)備裝置和元器件上方或近旁,以標明其功能、名稱、位置等。

HB/Z 298-1997民用飛機航空電子設(shè)備設(shè)計指南

本標準規(guī)定了民用飛機航空電子設(shè)備(以下簡稱航空電子設(shè)備)互換性、安裝、硬件和軟件設(shè)計以及設(shè)備測試等方面的要求?! ”緲藴蔬m用于數(shù)字式航空電子設(shè)備,包括系統(tǒng)、分系統(tǒng)、設(shè)備和LRU(Line?。遥澹穑欤幔悖澹幔猓欤濉。?nit,外場可更換單元)。在應(yīng)用本標準時,可根據(jù)具體情況對其內(nèi)容進行剪裁,以滿足特定飛機對航空電子設(shè)備的特殊要求。

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以上是中析研究所數(shù)字集成電路存儲器檢測檢測服務(wù)的相關(guān)介紹,如有其他檢測需求可咨詢在線工程師進行了解!

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