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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)基本術(shù)語,幾何光學(xué)、物理光學(xué)、像質(zhì)評定、光學(xué)零部件及工藝、光學(xué)儀器名稱、光學(xué)測量及產(chǎn)品技術(shù)要求等方面的術(shù)語共1028條。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)制定、技術(shù)文件編制、教材和書刊編寫及文獻(xiàn)翻譯等。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了層排式和矩陣式二維條碼符號的檢驗、分級以及符號整體質(zhì)量評價的方法,給出了造成偏離佳等級的可能原因及相應(yīng)的糾錯措施。本標(biāo)準(zhǔn)適用于二維條碼碼制規(guī)范已給出參考譯碼算法的二維條碼符號印制質(zhì)量的檢驗,其方法也可部分或全部適用于其他碼制二維條碼符號的檢驗。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征形貌的方法,及識別單壁碳納米管樣品中其他材料元素組成的能譜法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測單壁碳納米管的基本結(jié)構(gòu),包括形貌、缺陷、直徑分布、管束大小和取向、結(jié)晶情況,以及元素組分和手性分析等。
本標(biāo)準(zhǔn)給出了在納米科技領(lǐng)域中與顆粒相關(guān)的術(shù)語和定義,旨在促進(jìn)與納米科技相關(guān)的產(chǎn)業(yè)界、政府組織、社會人士及相關(guān)各方的相互交流。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)(Atomic force microscopy,簡稱AFM)測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測量。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于房屋建筑和市政基礎(chǔ)設(shè)施工程檢測的分類。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輸電線路鐵塔(簡稱“鐵塔”)的腐蝕評估要求,以及防腐蝕保護(hù)涂裝的技術(shù)要求,檢驗要求,試驗方法,安全、衛(wèi)生和環(huán)境保護(hù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于新建和在役鐵塔在設(shè)計、制造、安裝、運維各階段的防腐蝕保護(hù)涂裝相關(guān)工作,水泥混凝土桿的鋼箍、橫擔(dān)等類似鋼結(jié)構(gòu)也可參照執(zhí)行。本標(biāo)準(zhǔn)適用于以下涂裝工藝形成的金屬涂層和非金屬涂層:熱浸鍍、熱噴涂及其封閉涂料層、涂料涂裝。
This document specifies methods for tactile topographic measurement of the layer thickness of layer systems, with different mechanical properties of layer and substrate, in order to determine systematic deviations of the measured layer thickness.
This standard specifies the requirements for the supplier and PCB manufacturer for PCB design. This standard is applicable for all types of PCBs, including sequential, rigid and flexible PCBs, HDI and RF PCBs. This standard can be made applicable for other products combining mechanical and electrical functionality using additive or reductive manufacturing processes, as used in PCB manufacturing. Examples of such products are slip rings and bus bars. This standard may be tailored for the specific characteristics and constraints of a space project in conformance with ECSS-S-ST-00.
This part of ISO 10407 specifies procedures for the inspection and testing of used drill stem components.
This document defines the design and metrological characteristics of a particular non-contact instrument for measuring surface texture using a confocal chromatic probe based on axial chromatic dispersion of white light.