GB/T 17626.5-2019 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.5-2019 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)

　　Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques-Surge immunity test

　　標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 即將實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》由TC246(電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口上報(bào)，TC246SC1(電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會高頻現(xiàn)象分會)執(zhí)行，主管部門為標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會。

GB/T 17626.5-2019主要起草單位

中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 、北京福測電子儀器有限公司 、中國計(jì)量科學(xué)研究院 、聯(lián)想(北京)有限公司 、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院 、中國汽車技術(shù)研究中心有限公司 、蘇州泰思特電子科技有限公司 。

GB/T 17626.5-2019主要起草人

李煥然 、張強(qiáng) 、蘭德福 、黃攀 、呂飛燕 、趙文暉 、丁一夫 、黃學(xué)軍 、葉暢 、侯新偉 。

GB/T 17626.5-2019采標(biāo)情況

　　本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-5:2014。

　　采標(biāo)中文名稱:電磁兼容(EMC)第4-5部分：試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)。

GB/T 17626.5-2019相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)

GB/T 17626.5-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)
20151795-T-469 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)
20064769-T-469 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.3-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)
20030688-T-469 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)
20101314-T-469 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.1-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論
GB/T 17626.18-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.10-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn)