GB/T 32278-2015 碳化硅單晶片平整度測(cè)試方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32278-2015

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：碳化硅單晶片平整度測(cè)試方法

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers

　　標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

　　中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：(CCS)H21

　　標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：(ICS)77.040

　　發(fā)布日期：2015-12-10

　　實(shí)施日期：2017-01-01

　　主管部門：標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

　　歸口單位：半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

主要起草單位

　　北京天科合達(dá)藍(lán)光半導(dǎo)體有限公司 、中國科學(xué)院物理研究所 。

主要起草人

　　陳小龍 、鄭紅軍 、張瑋 、郭鈺 。

相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)

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