GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 35158-2017

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：俄歇電子能譜儀檢定方法

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Verification method for Auger electron spectrometers(AES)

　　標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

　　中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：(CCS)G04

　　標(biāo)準(zhǔn)分類號：(ICS)71.040.40

　　發(fā)布日期：2017-12-29

　　實(shí)施日期：2018-11-01

　　主管部門：標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

　　歸口單位：微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

主要起草單位

　　廈門大學(xué) 、清華大學(xué) 。

主要起草人

　　姚文清 、岑丹霞 、張?jiān)雒?、徐建 、劉芬 、王水菊 。

相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)

　　20142057-T-469 俄歇電子能譜儀檢定方法

　　GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀檢定方法

　　20075691-T-469 X射線光電子能譜儀檢定方法

　　20068682-T-491 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

　　GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

　　GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則

　　JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術(shù)元素鑒定方法

　　19990222-T-469 俄歇電子能譜分析方法通則

　　SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法

　　GB/T 29731-2013 表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)