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400-635-0567Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)《納米技術(shù) 半導(dǎo)體納米粉體材料紫外-可見漫反射光譜的測試方法》由TC279(納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口上報及執(zhí)行,主管部門為中國科學(xué)院。
納米科學(xué)中心 、北京為康環(huán)保科技有限公司 、廣州特種承壓設(shè)備檢測研究院 、北京市理化分析測試中心 、北京科技大學(xué) 、北京粉體技術(shù)協(xié)會 。
樸玲鈺 、吳志嬌 、曹文斌 、楊麟 、高峽 、常懷秋 、劉文秀 、尹宗杰 、高原 。
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