SAE AIR6236A-2016 EMI 測(cè)試設(shè)備的內(nèi)部驗(yàn)證




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通信設(shè)備(EMI)檢測(cè)

發(fā)布日期: 2025-04-12 07:14:07 - 更新時(shí)間:2025年04月12日 07:15

通信設(shè)備(EMI)檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求?

點(diǎn) 擊 解 答??

一、EMI檢測(cè)的核心目的

  1. 合規(guī)性要求:滿足標(biāo)準(zhǔn)(如CISPR、FCC、GB等)及行業(yè)法規(guī),確保設(shè)備合法上市。
  2. 性能保障:防止設(shè)備自身電磁噪聲影響其他電子設(shè)備,同時(shí)提升抗干擾能力。
  3. 用戶體驗(yàn):規(guī)避通信中斷、信號(hào)失真等問題,保障通信質(zhì)量。

二、關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目與測(cè)試方法

1. 傳導(dǎo)發(fā)射(Conducted Emission)

  • 檢測(cè)目標(biāo):設(shè)備通過電源線或信號(hào)線向外傳輸?shù)碾姶鸥蓴_。
  • 測(cè)試頻段:150kHz~30MHz。
  • 測(cè)試配置
    • 使用線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN)隔離待測(cè)設(shè)備(EUT)與電網(wǎng)。
    • 通過頻譜分析儀或EMI接收機(jī)測(cè)量干擾電壓/電流。
  • 限值標(biāo)準(zhǔn):CISPR 32 Class B(民用設(shè)備)或Class A(工業(yè)設(shè)備)。

2. 輻射發(fā)射(Radiated Emission)

  • 檢測(cè)目標(biāo):設(shè)備通過空間輻射的電磁波干擾。
  • 測(cè)試頻段:30MHz~6GHz(5G設(shè)備需擴(kuò)展至40GHz)。
  • 測(cè)試環(huán)境:電波暗室(3m/10m法)或開闊場(chǎng)(OATS)。
  • 設(shè)備要求
    • 接收天線按水平/垂直極化方向掃描。
    • 測(cè)試距離通常為3米(CISPR標(biāo)準(zhǔn))或10米(FCC標(biāo)準(zhǔn))。
  • 限值依據(jù):CISPR 32、FCC Part 15等。

3. 諧波電流(Harmonic Current)

  • 檢測(cè)目標(biāo):設(shè)備電源輸入端的電流諧波對(duì)電網(wǎng)的污染。
  • 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-3-2(額定電流≤16A設(shè)備)。
  • 測(cè)試方法
    • 使用諧波分析儀測(cè)量2~40次諧波分量。
    • 限值根據(jù)設(shè)備類型(A/B/C/D類)分級(jí)管控。

4. 電壓波動(dòng)與閃爍(Voltage Fluctuation & Flicker)

  • 檢測(cè)目標(biāo):設(shè)備開關(guān)機(jī)或負(fù)載突變導(dǎo)致的電網(wǎng)電壓波動(dòng)。
  • 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-3-3。
  • 關(guān)鍵參數(shù):短時(shí)閃爍值(Pst)、長(zhǎng)期閃爍值(Plt)。

5. 斷續(xù)干擾(Click/Discontinuous Disturbance)

  • 檢測(cè)目標(biāo):繼電器、開關(guān)電源等部件產(chǎn)生的瞬態(tài)脈沖干擾。
  • 測(cè)試要點(diǎn)
    • 測(cè)量干擾脈沖的幅度、持續(xù)時(shí)間和重復(fù)頻率。
    • 依據(jù)CISPR 14-1評(píng)估是否符合限值。

6. 靜電放電抗擾度(ESD)

  • 檢測(cè)目標(biāo):設(shè)備在靜電干擾下的穩(wěn)定性(雖屬EMS范疇,但常與EMI聯(lián)動(dòng)測(cè)試)。
  • 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-2。
  • 測(cè)試等級(jí):接觸放電4kV(民用)、8kV(工業(yè));空氣放電15kV。

三、測(cè)試流程與設(shè)備配置

  1. 預(yù)測(cè)試
    • 使用近場(chǎng)探頭定位干擾源(如高頻芯片、電源模塊)。
    • 初步判斷超標(biāo)頻點(diǎn),優(yōu)化濾波電路或屏蔽設(shè)計(jì)。
  2. 正式測(cè)試
    • 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)布置EUT、輔助設(shè)備及測(cè)試儀器。
    • 全頻段掃描并記錄超標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)。
  3. 數(shù)據(jù)分析
    • 對(duì)比限值曲線,生成測(cè)試報(bào)告。
    • 提出整改建議(如增加磁環(huán)、調(diào)整接地策略)。

四、常見問題與對(duì)策

問題現(xiàn)象 可能原因 解決方案
傳導(dǎo)發(fā)射30MHz附近超標(biāo) 開關(guān)電源高頻噪聲泄漏 增加共模電感或X電容
輻射發(fā)射1GHz以上超標(biāo) PCB走線或連接器輻射 優(yōu)化布局,加裝屏蔽罩/吸波材料
諧波電流3次諧波超標(biāo) 整流電路設(shè)計(jì)缺陷 使用PFC(功率因數(shù)校正)電路

五、發(fā)展趨勢(shì)與挑戰(zhàn)

  • 高頻化測(cè)試:5G毫米波頻段(24.25~52.6GHz)對(duì)暗室和探頭精度提出更高要求。
  • 自動(dòng)化測(cè)試:AI驅(qū)動(dòng)的EMI診斷系統(tǒng)可快速定位干擾源并生成優(yōu)化方案。
  • 標(biāo)準(zhǔn)融合:統(tǒng)一化標(biāo)準(zhǔn)(如IEC與FCC協(xié)同)降低企業(yè)合規(guī)成本。

結(jié)語

通信設(shè)備的EMI檢測(cè)是產(chǎn)品設(shè)計(jì)到量產(chǎn)過程中不可或缺的環(huán)節(jié)。通過系統(tǒng)化的測(cè)試項(xiàng)目覆蓋與的干擾抑制措施,企業(yè)可有效提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力,規(guī)避市場(chǎng)風(fēng)險(xiǎn)。未來,隨著無線技術(shù)的迭代,EMI檢測(cè)將向更高頻段、更智能化方向持續(xù)演進(jìn)。


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