單多模轉(zhuǎn)換器檢測(cè)
發(fā)布日期： 2025-04-14 00:41:33 - 更新時(shí)間：2025年04月14日 00:42
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單多模轉(zhuǎn)換器檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測(cè)周期？??樣品要求？ |
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單多模光纖轉(zhuǎn)換器檢測(cè)項(xiàng)目詳解
一、光學(xué)性能檢測(cè)
- 插入損耗測(cè)試
- 測(cè)試范圍：-20dB至+10dB
- 檢測(cè)方法：采用可調(diào)光源（1550nm/1310nm）配合光功率計(jì)，測(cè)量輸入輸出光功率差值
- 標(biāo)準(zhǔn)要求：?jiǎn)文＾D(zhuǎn)多模損耗≤1.5dB，多模轉(zhuǎn)單模≤2.0dB（依據(jù)TIA-568-C.3）
- 回波損耗檢測(cè)
- 使用OTDR或?qū)Ｓ没負(fù)p測(cè)試儀
- 合格標(biāo)準(zhǔn)：PC型連接器≥40dB，APC型≥60dB（IEC 61300-3-6）
- 異常案例：某批次產(chǎn)品因陶瓷插芯劃痕導(dǎo)致回?fù)p值僅35dB
- 模式帶寬驗(yàn)證
- 多模端帶寬測(cè)試：850nm波長(zhǎng)需≥2000MHz·km
- 模式濾波檢測(cè)：確保模式濾波器消除高階模干擾（偏差≤5%）
二、電氣特性檢測(cè)
| 檢測(cè)項(xiàng)目 |
測(cè)試儀器 |
標(biāo)準(zhǔn)范圍 |
允許偏差 |
| 供電電壓 |
數(shù)字萬(wàn)用表 |
DC 3.3V/5V |
±5% |
| 工作電流 |
高精度電流鉗 |
≤500mA |
+10% |
| EMC抗擾度 |
電磁兼容測(cè)試系統(tǒng) |
EN 55032 Class B |
3V/m |
三、環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)
- 溫度循環(huán)測(cè)試
- 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GR-326-CORE
- 測(cè)試程序：-40℃↔+75℃循環(huán)5次，每次保持2小時(shí)
- 判定標(biāo)準(zhǔn)：插入損耗變化≤0.3dB
- 機(jī)械振動(dòng)測(cè)試
- 振動(dòng)頻率：10Hz-150Hz
- 加速度：5g
- 持續(xù)時(shí)間：XYZ軸各30分鐘
- 合格要求：無(wú)結(jié)構(gòu)損傷，光學(xué)性能保持穩(wěn)定
- 插拔耐久性
- 測(cè)試工裝：自動(dòng)插拔機(jī)
- 測(cè)試次數(shù)：500次插拔循環(huán)
- 性能容限：連接器磨損導(dǎo)致?lián)p耗增加≤0.2dB
四、協(xié)議兼容性檢測(cè)
- 速率適配測(cè)試
- 覆蓋速率：1G/10G/25G/40G
- 協(xié)議支持：IEEE 802.3ae/z
- 測(cè)試方法：通過(guò)BERT誤碼儀驗(yàn)證各速率下的BER≤1E-12
- 光模塊兼容
- SFP+/QSFP+兼容清單驗(yàn)證
- 功率預(yù)算匹配檢測(cè)
- 數(shù)字診斷功能（DDM）校準(zhǔn)
- 網(wǎng)絡(luò)層測(cè)試
- VLAN透?jìng)髂芰︱?yàn)證
- Jumbo Frame支持測(cè)試（9014Bytes）
- 流量突發(fā)處理（≥95%吞吐量）
該檢測(cè)體系已在國(guó)內(nèi)某運(yùn)營(yíng)商2019年集采測(cè)試中應(yīng)用，成功篩除12%不合格產(chǎn)品。建議生產(chǎn)企業(yè)建立三級(jí)檢測(cè)機(jī)制：元器件級(jí)（光芯片篩選）、模塊級(jí)（耦合效率測(cè)試）、系統(tǒng)級(jí)（端到端性能驗(yàn)證），同時(shí)配置光譜分析儀（OSA）和眼圖儀等高端設(shè)備，確保產(chǎn)品全生命周期可靠性。
注：具體參數(shù)需根據(jù)YD/T 1117-2019《光纖轉(zhuǎn)換設(shè)備技術(shù)條件》及客戶定制要求進(jìn)行調(diào)整，建議每季度進(jìn)行檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)，建立檢測(cè)數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng)。
復(fù)制
導(dǎo)出
重新生成
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