IEC 60747-3-1:1986 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(hào)二極管(包括開(kāi)關(guān)二極管)及調(diào)整二極管 第1節(jié):信號(hào)二極管、開(kāi)關(guān)二極管和可控雪崩二極管空白" />

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二極管檢測(cè)

發(fā)布日期: 2025-04-14 01:24:22 - 更新時(shí)間:2025年04月14日 01:25

二極管檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求?

點(diǎn) 擊 解 答??

二極管檢測(cè)的完整指南:核心檢測(cè)項(xiàng)目與方法

一、核心檢測(cè)項(xiàng)目清單

  1. 正向壓降(Vf)檢測(cè)

    • 目的:驗(yàn)證二極管在導(dǎo)通狀態(tài)下的電壓損耗
    • 方法:使用萬(wàn)用表二極管檔,紅表筆接陽(yáng)極,黑表筆接陰極
    • 標(biāo)準(zhǔn)值
      • 硅管:0.5-0.7V
      • 鍺管:0.2-0.3V
      • 肖特基二極管:0.15-0.45V
  2. 反向擊穿電壓(Vbr)檢測(cè)

    • 目的:確定二極管的大反向耐壓能力
    • 設(shè)備:高壓電源 + 限流電阻(1kΩ)或?qū)S媚蛪簻y(cè)試儀
    • 步驟
      1. 反向偏置二極管
      2. 逐漸增加電壓至漏電流達(dá)1mA,記錄此時(shí)的電壓值
    • 注意:測(cè)試時(shí)間需<1秒,防止過(guò)熱損壞
  3. 反向漏電流(Ir)檢測(cè)

    • 條件:施加額定反向電壓(如1N4007施加50V)
    • 工具:高精度電流表或半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
    • 合格標(biāo)準(zhǔn)
      • 普通整流二極管:<1μA(25℃時(shí))
      • 高壓二極管:<5μA
  4. 結(jié)電容(Cj)與反向恢復(fù)時(shí)間(Trr)檢測(cè)

    • 適用類(lèi)型:快恢復(fù)二極管、開(kāi)關(guān)二極管
    • 方法
      • 結(jié)電容:LCR表(1MHz頻率下測(cè)試)
      • 反向恢復(fù)時(shí)間:脈沖發(fā)生器+示波器,通過(guò)開(kāi)關(guān)波形觀測(cè)延遲
    • 典型值
      • 1N4148:Trr≈4ns,Cj≈4pF
      • 快恢復(fù)二極管FR107:Trr≈500ns
  5. 溫度特性測(cè)試

    • 參數(shù):正向壓降溫度系數(shù)(約-2mV/℃)、反向漏電流溫漂
    • 設(shè)備:恒溫箱 + 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
    • 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn):-55℃~150℃范圍內(nèi)特性變化需符合數(shù)據(jù)手冊(cè)
  6. 外觀與機(jī)械性能檢查

    • 項(xiàng)目
      • 引腳氧化、封裝裂紋
      • 標(biāo)記清晰度(極性標(biāo)識(shí))
      • 焊接兼容性(如耐高溫260℃/10s)

二、不同二極管的檢測(cè)

二極管類(lèi)型 關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目 特殊要求
整流二極管 Vf、Vbr、Ir 高耐壓、大電流測(cè)試
開(kāi)關(guān)二極管 Trr、Cj、Vf 高頻特性驗(yàn)證
肖特基二極管 Vf、Ir、熱阻(Rθjc) 低功耗、高溫漏電流監(jiān)測(cè)
穩(wěn)壓二極管 Vbr精度、動(dòng)態(tài)阻抗(Zzt) 電壓穩(wěn)定性測(cè)試(ΔVbr<5%)

三、檢測(cè)工具選擇建議

  1. 基礎(chǔ)檢測(cè):數(shù)字萬(wàn)用表(需具備二極管檔)
  2. 精密測(cè)量
    • 半導(dǎo)體特性分析儀(如Keysight B1500A)
    • LCR表(測(cè)結(jié)電容)
  3. 動(dòng)態(tài)測(cè)試
    • 示波器(帶寬≥100MHz)
    • 脈沖信號(hào)發(fā)生器(上升時(shí)間<10ns)

四、安全操作與常見(jiàn)問(wèn)題

  1. 防靜電措施
    • 使用防靜電手環(huán)
    • 避免徒手接觸引腳(尤其肖特基管)
  2. 常見(jiàn)故障判斷
    • 短路:正反向電阻均接近0Ω
    • 開(kāi)路:正向電阻無(wú)窮大
    • 性能劣化:Vf升高20%以上或Ir超標(biāo)
  3. 誤測(cè)案例
    • 在路測(cè)試未隔離周邊電路
    • 誤用交流檔測(cè)直流參數(shù)

五、檢測(cè)流程示例

  1. 目視檢查外觀缺陷
  2. 萬(wàn)用表初測(cè)正反向電阻
  3. 專(zhuān)用設(shè)備測(cè)Vf、Vbr、Ir
  4. 高頻參數(shù)測(cè)試(Trr、Cj)
  5. 高低溫循環(huán)驗(yàn)證可靠性

結(jié)論:系統(tǒng)化的二極管檢測(cè)可提前規(guī)避90%的電路故障。建議結(jié)合數(shù)據(jù)手冊(cè)參數(shù),建立檢測(cè)基準(zhǔn)庫(kù),對(duì)關(guān)鍵參數(shù)(如Vbr、Trr)實(shí)施批次抽樣測(cè)試,確保元件符合設(shè)計(jì)余量要求。


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