IEC 60747-3-1:1986 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號二極管(包括開關(guān)二極管)及調(diào)整二極管 第1節(jié):信號二極管、開關(guān)二極管和可控雪崩二極管空白" />

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二極管檢測

發(fā)布日期: 2025-04-14 01:24:22 - 更新時間:2025年04月14日 01:25

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二極管檢測的完整指南:核心檢測項目與方法

一、核心檢測項目清單

  1. 正向壓降(Vf)檢測

    • 目的:驗證二極管在導(dǎo)通狀態(tài)下的電壓損耗
    • 方法:使用萬用表二極管檔,紅表筆接陽極,黑表筆接陰極
    • 標(biāo)準(zhǔn)值
      • 硅管:0.5-0.7V
      • 鍺管:0.2-0.3V
      • 肖特基二極管:0.15-0.45V
  2. 反向擊穿電壓(Vbr)檢測

    • 目的:確定二極管的大反向耐壓能力
    • 設(shè)備:高壓電源 + 限流電阻(1kΩ)或?qū)S媚蛪簻y試儀
    • 步驟
      1. 反向偏置二極管
      2. 逐漸增加電壓至漏電流達(dá)1mA,記錄此時的電壓值
    • 注意:測試時間需<1秒,防止過熱損壞
  3. 反向漏電流(Ir)檢測

    • 條件:施加額定反向電壓(如1N4007施加50V)
    • 工具:高精度電流表或半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
    • 合格標(biāo)準(zhǔn)
      • 普通整流二極管:<1μA(25℃時)
      • 高壓二極管:<5μA
  4. 結(jié)電容(Cj)與反向恢復(fù)時間(Trr)檢測

    • 適用類型:快恢復(fù)二極管、開關(guān)二極管
    • 方法
      • 結(jié)電容:LCR表(1MHz頻率下測試)
      • 反向恢復(fù)時間:脈沖發(fā)生器+示波器,通過開關(guān)波形觀測延遲
    • 典型值
      • 1N4148:Trr≈4ns,Cj≈4pF
      • 快恢復(fù)二極管FR107:Trr≈500ns
  5. 溫度特性測試

    • 參數(shù):正向壓降溫度系數(shù)(約-2mV/℃)、反向漏電流溫漂
    • 設(shè)備:恒溫箱 + 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
    • 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn):-55℃~150℃范圍內(nèi)特性變化需符合數(shù)據(jù)手冊
  6. 外觀與機械性能檢查

    • 項目
      • 引腳氧化、封裝裂紋
      • 標(biāo)記清晰度(極性標(biāo)識)
      • 焊接兼容性(如耐高溫260℃/10s)

二、不同二極管的檢測

二極管類型 關(guān)鍵檢測項目 特殊要求
整流二極管 Vf、Vbr、Ir 高耐壓、大電流測試
開關(guān)二極管 Trr、Cj、Vf 高頻特性驗證
肖特基二極管 Vf、Ir、熱阻(Rθjc) 低功耗、高溫漏電流監(jiān)測
穩(wěn)壓二極管 Vbr精度、動態(tài)阻抗(Zzt) 電壓穩(wěn)定性測試(ΔVbr<5%)

三、檢測工具選擇建議

  1. 基礎(chǔ)檢測:數(shù)字萬用表(需具備二極管檔)
  2. 精密測量
    • 半導(dǎo)體特性分析儀(如Keysight B1500A)
    • LCR表(測結(jié)電容)
  3. 動態(tài)測試
    • 示波器(帶寬≥100MHz)
    • 脈沖信號發(fā)生器(上升時間<10ns)

四、安全操作與常見問題

  1. 防靜電措施
    • 使用防靜電手環(huán)
    • 避免徒手接觸引腳(尤其肖特基管)
  2. 常見故障判斷
    • 短路:正反向電阻均接近0Ω
    • 開路:正向電阻無窮大
    • 性能劣化:Vf升高20%以上或Ir超標(biāo)
  3. 誤測案例
    • 在路測試未隔離周邊電路
    • 誤用交流檔測直流參數(shù)

五、檢測流程示例

  1. 目視檢查外觀缺陷
  2. 萬用表初測正反向電阻
  3. 專用設(shè)備測Vf、Vbr、Ir
  4. 高頻參數(shù)測試(Trr、Cj)
  5. 高低溫循環(huán)驗證可靠性

結(jié)論:系統(tǒng)化的二極管檢測可提前規(guī)避90%的電路故障。建議結(jié)合數(shù)據(jù)手冊參數(shù),建立檢測基準(zhǔn)庫,對關(guān)鍵參數(shù)(如Vbr、Trr)實施批次抽樣測試,確保元件符合設(shè)計余量要求。


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